發(fā)布時間： 2015-10-14 瀏覽次數(shù): 作者：卓定科技
T3Ster熱阻測試系統(tǒng)是一種獨特的設備，它能夠對包括電力電子器件在內的半導體器件的熱特性進行測量，從而對器件的散熱設計進行優(yōu)化，對散熱性能進行針對性的改善。
T3Ster熱阻測試系統(tǒng)不僅適用于半導體器件的熱特性的測量和分析，還可評估半導體器件的封裝水平，可以對半導體器件封裝的缺陷進行檢測，以及在半導體器件進行可靠性測試后，對封裝水平的進行再評估。
此系統(tǒng)可以測試晶閘管、功率晶體管，大功率LED，MOSFET 和其他功率器件。
圖1:1200A T3Ster熱阻測試系統(tǒng)
1200A T3Ster 熱阻測試系統(tǒng)的優(yōu)勢在于：
1、 結溫度測量精度高，器件結溫度的測量精度為 0.01°C；
2、 從加熱狀態(tài)和測量狀態(tài)切換時間短，僅為 1μs；
3、 測試采樣速率高且時間短，1μs /次，即1秒鐘可以采樣一百萬次；
4、 采用先進的靜態(tài)測試方法進行瞬態(tài)熱測試，測試周期短，測試的重復性好；
1200A T3Ster 熱阻測試系統(tǒng)可以輸出如下的電氣參數(shù)：
1、 加熱電流：在器件電壓 0~7V 的范圍內，加熱電流在 0~1200A 范圍內線性輸出；
2、 測試電流：在器件電壓 0~7V 的范圍內，測試電流在 0~2A 范圍內線性輸出；
3、 Gate 控制電壓：0~30V 范圍內線性輸出；
4、 脈沖電流寬度：10ms~無窮大；
1200A T3Ster 熱阻測試系統(tǒng)滿足如下的要求：
1、 被測試器件數(shù)：每次進行一個 DUT 測試；
2、 具有 Power Cycle 的功能：循環(huán)次數(shù) 1~無窮大；
3、 適用的溫度測試方法：器件的導通電壓作為溫度敏感參數(shù)；
4、 適用的瞬態(tài)測試方法：靜態(tài)測試法（持續(xù)加熱，冷卻中連續(xù)測試），動態(tài)測試方法（脈沖加熱，單點測試）。
1200A T3Ster熱阻測試系統(tǒng)能對電力電子器件暨大功率半導體器件進行瞬態(tài)熱阻抗和穩(wěn)態(tài)熱阻測試，具有可靠、方便、準確地對被測半導體器件進行溫度敏感參數(shù)的測量和校準的能力。溫度敏感參數(shù)在測量和校準時，可采用外部液體循環(huán)器控制環(huán)境溫度，從而對被測半導體器件的升溫和冷卻進行控制。